DIN 41792 Bb.3-1968 用于通讯技术的半导体元件.测试方法.热电阻
作者:标准资料网
时间:2024-05-15 14:20:32
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【英文标准名称】:Low-powersemiconductordevicesmeasuringmethods;thermalresistance
【原文标准名称】:用于通讯技术的半导体元件.测试方法.热电阻
【标准号】:DIN41792Bb.3-1968
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1968-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:操作时间;半导体;热阻;测量技术;电气工程;半导体器件;电子工程
【英文主题词】:semiconductordevices;thermalresistance;electricalengineering;measuringtechniques;semiconductors;operatingtime;electronicengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:2370;1970
【页数】:2P;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:用于通讯技术的半导体元件.测试方法.热电阻
【标准号】:DIN41792Bb.3-1968
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1968-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:操作时间;半导体;热阻;测量技术;电气工程;半导体器件;电子工程
【英文主题词】:semiconductordevices;thermalresistance;electricalengineering;measuringtechniques;semiconductors;operatingtime;electronicengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:2370;1970
【页数】:2P;A4
【正文语种】:德语
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